ATPG相关论文
故障测试在芯片开发中是十分重要的部分,分布于开发的各个环节中。每个芯片在发布前都需要进行故障测试,以确保有缺陷的芯片不会流......
随着集成电路的复杂度不断增大以及电路模块化设计方法的盛行,集成电路在设计和生产过程中产生了大量的未知位(X)。电路中X值的传......
当前在工业上对集成电路的故障测试主要还集中于呆滞型故障的检测，而随着半导体技术的高速发展，使得芯片的运行速率不断上升，工艺的特......
介绍了“龙腾”52微处理器测试结构设计方法,详细讨论了采用全扫描测试、内建自测试(BIST)等可测性设计(DFT)技术.该处理器与PC104......
讨论了组合电路的等价性检验方法,分析了FAN算法的关键技术。利用该算法进行了组合电路的等价性检验,实验结果表明了该方法的有效......
瞬态电流测试可以检测一些用电压测试和稳态电流测试不能检测的故障。对每一个故障都进行一次测试生成所花费的时间太多,而且没有......
布尔可满足性被深入研究井广泛应用于电子设计自动化等领域。该文提出了一种基于布尔可满足性的组合电路ATPG改进算法。在采用当前......
随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方......
可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节，针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求。首先概迷可测试性设计和测试向......
全速测试（at-speed ATPG）是现代电子设计中必需的一个重要环节。然而由于在做ATPG时,时序信息不完整,所以某些全速测试的向量会激活......
介绍布尔可满足性 (SAT)求解程序在测试向量自动生成、符号模型检查、组合等价性检查和RTL电路设计验证等电子设计自动化领域中的......
本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点，本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统......
本文介绍了ITS9000 MX测试程序库的设计与实现,提出了基于ATPG的测试程序设计方法。...
可测性设计已应用在大规模集成电路设计中。本文介绍了可测性设计原理和实现技术。同时介绍了一款无线局域网（WLAN）芯片,根据该芯片......
在ASIC设计中,越来越多地采用了SoC(systems-on-a-chip)方法,同时也因为采用各种IP核和嵌入存储器,给芯片的设计和测试带来了复杂......
Digi-Key Corporation与Airpax签订全球经销协议,大唐移动3GTD-SCDMA无线网络控制器采用IDT网络搜索引擎助力中国移动通信系统,德......
集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加，而ATPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义，本文对该技术的发展及其所采用的方法进行......
数字电路测试的关键在于算出测试向量。文章对数字电路的功能测试和测试生成进行研究，介绍了D算法的基本概念及在数字电路故障检测......
随着信息时代的飞速发展,集成电路已被广泛应用于民用、商用、军用等多个领域,与此同时,集成电路测试作为保证集成电路质量的重要......
随着数字电路的广泛应用．电路的测试与故障诊断已成为其设计与生产过程的重要组成部分。讨论了电路的测试及故障诊断中的一些问题．主......
过大的峰值功耗会使芯片承受过大的瞬间电流冲击,降低芯片的可靠性及性能,因此有效地对电路最大功耗作出精确的估计非常重要.为了......
ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清......
液晶显示(LCD)控制器芯片是面向液晶显示器应用的高集成度图形图像显示芯片,其主要作用是为电子信息设备所使用的液晶显示器件提供......
随着集成电路技术的不断发展,数字电路的可测性设计和自动测试向量生成的研究日趋重要。论文的主要工作是在深入研究数字电路测试......
随着当前集成电路特征尺寸不断减小,在带来频率功耗等性能的提升的同时,一些严重的电路可靠性问题也逐渐显现。其中负偏置温度不稳......
目前,基于IP(Intellectual Property)复用的片上系统设计方法使得专用集成电路(ASIC,Application Specific Integrated Circuit)的......
随着云计算和物联网等技术的兴起,互联网的广度和深度的不断扩大,网络信息安全成为愈加重要的技术和社会问题。信息安全的基础是密......
随着超大规模集成电路技术进入纳米时代，电路日趋复杂，集成度日益增高，由此导致数字集成电路故障的复杂性急剧增加，为每一类故障建立故......
集成电路发展到今天的系统级芯片,遇到的最棘手的问题就是SOC芯片的可测性设计问题和测试方法的问题。本论文主要的研究目的是对超......
随着IT业的不断发展，集成电路产业增长迅速。而随着芯片复杂度的不断增加，设计出错的可能性越来越大，因而验证越来越重要，而验证新产品......
